Микро-/макроскретч-тестер и микротвердомер QATM Qscratch 20
Qscratch 20 — это полностью автоматический прибор для макро- и микроисследований устойчивости к царапинам, предназначенный для контроля качества покрытий, функциональных поверхностей и критических нагрузок. Система сочетает в себе контролируемое приложение нагрузки, точное электронное регулирование нагрузки, встроенную оптическую оценку и управление с помощью программного обеспечения QpixControl2. Это обеспечивает воспроизводимые испытания на устойчивость к царапинам с прогрессивной или постоянной нагрузкой, включая структурированную оценку, документирование и формирование отчетов.
Благодаря моторизованным осям X/Y/Z, возможности проведения единичных и многократных измерений, а также 8-позиционному автоматическому сменщику инструментов, Qscratch 20 предназначен для лабораторий, которым ежедневно необходимо принимать обоснованные решения относительно состояния поверхностей. Система поддерживает испытания на царапины в соответствии со следующими стандартами: DIN EN ISO 20502, ASTM C1624, ISO 27307 и ASTM G171. Дополнительные модули испытаний на твердость по Виккерсу и анализа Qpix Inspect делают систему гибкой платформой для оценки покрытий, испытаний поверхностей и обеспечения качества.
Преимущества прибора
|
|
Методы испытаний и диапазон нагрузок
| Метод: Прогрессивная нагрузка Определяются начальная и конечная нагрузки, а также скорость нагружения. Нагрузка увеличивается по длине царапины; видимые явления можно обозначить как точки Lc в соответствующих положениях. ISO: PFST — испытание на царапину с прогрессивной нагрузкой ASTM: PL — прогрессивная нагрузка Lc: Критическая нагрузка | Метод: Постоянная нагрузка Сила прижима остается неизменной на всей длине царапины. Этот метод подходит для единичных измерений, серийных сравнений и повторяемых условий испытаний в рамках контроля качества. ISO: CFST — испытание на царапину с постоянной силой ASTM: CL — постоянная нагрузка Lc: Критическая нагрузка |
Четко обозначенное начало. Контролируемая нагрузка. Четкая оценка
Во время испытания на царапины алмазный наконечник перемещается по поверхности с покрытием под действием заданной прикладываемой силы. Видимые явления, такие как образование трещин, отколы или проникновение в покрытие, локализуются вдоль царапины и привязываются к соответствующей критической нагрузке. Таким образом, царапина не только указывает на то, что происходит разрушение, но и показывает, где именно это происходит, — и позволяет отследить нагрузку в критической точке.
Определение и классификация повреждений
Lc1 — Начальное образование трещин / пластическая деформация
Lc2 — Отслоение
Lc3 — Проникновение покрытия вплоть до основания
Керамические покрытия. Оценка адгезии и типов разрушения.
В этом интерактивном разделе показано, как анализируются типичные случаи разрушения вдоль линии царапины. Щелкните по точкам LC, чтобы увидеть, как образование трещин, отколы и проникновение покрытия связаны с конкретными положениями и нагрузками.
Тонкие твердые керамические покрытия (обычно 0,1–30 мкм)
| Тонкие твердые керамические и технические покрытия (обычно ≤ 20 мкм)
|
Подсвеченный индикатор состояния
Рабочий процесс
Простое тестирование, эффективный анализ
QpixControl2 — это больше, чем просто пользовательский интерфейс: это программное обеспечение сочетает в себе запатентованную концепцию 3D-интерфейса с бесперебойным рабочим процессом «Scratch». Можно легко создавать испытания, визуально размещать следы царапин, автоматически обрабатывать отдельные измерения и структурированно оценивать соответствующие события Lc. От определения испытания через фиксацию изображения и оценку до управления данными, экспорта и стандартизированной отчетности — все этапы остаются интегрированными в интуитивно понятной программной среде. Это снижает операционные затраты, способствует воспроизводимости процессов и обеспечивает эффективное использование испытаний на царапины в рамках обеспечения качества, ориентированного на производство.
3 шага к результату
1. Загрузка образца
Держатель образца автоматически перемещается на нужную высоту, после чего автоматически производится съемка изображения образца.
2. Расположение
Перетащите начальную точку теста на царапины непосредственно на нужное место.
3. Запуск последовательности испытаний
Последовательность испытаний выполняется полностью автоматически и в соответствии со стандартами испытаний Scratch. После этого случаи отказа можно проанализировать и отнести к соответствующим точкам Lc.
Программное обеспечение
Встроенные функции
Программное обеспечение
Параметры
Микроскопия и анализ
Qpix Inspect для измерения микроскопической толщины и испытания адгезии по методу Роквелла
Дополнительные модули Qpix Inspect расширяют возможности прибора Qscratch 20, добавляя практичные функции для оценки покрытий. Функция измерения микроскопической толщины покрытия по методу испытания на образование кратеров соответствует стандарту DIN EN ISO 26423, а испытание на адгезию по методу Роквелла позволяет проводить качественную оценку адгезии керамических покрытий в соответствии со стандартом DIN EN ISO 26443. Это позволяет собирать, оценивать и документировать дополнительную информацию о качестве покрытия непосредственно в привычной программной среде QpixControl2.
Qpix Inspect для микроскопических исследований
Интуитивно понятное и удобное в использовании программное обеспечение Qpix INSPECT предоставляет полный набор инструментов для микроскопических исследований и документирования результатов. Это многофункциональное программное обеспечение можно настроить под конкретные измерительные задачи заказчика и дополнить дополнительными модулями.
Анализ фаз
- Автоматическое измерение размеров объектов на изображении
- Оценка доли фаз в соответствии со стандартами ISO 9042 и ASTM E562
- Предоставляет результаты анализа в виде процентных долей поверхности или номинальных значений поверхности в виде таблиц или диаграмм
Проверка измерение толщины слоя
- Определение толщины слоя в соответствии со стандартом DIN EN ISO 1463
- Полуавтоматическое измерение горизонтальных, вертикальных и радиальных слоев
- Предоставление данных о толщине слоя в виде статистических значений для различных отрезков в виде таблиц или диаграмм
Проверка определения размера частиц
- Размер частиц определяется в соответствии со стандартами DIN EN ISO 643 и ASTM E112 методом линейного или кругового разреза
- Результаты анализа предоставляются в виде таблиц или диаграмм
- Документация статистических характеристик размера частиц и длин сегментов, проходящих через частицы
Инспекция
- Измерение сварных швов
- Стандартизированное измерение и оценка сварных швов
- Готовые шаблоны со всеми необходимыми измерительными инструментами, такими как толщина горловины, армирование сварного шва, глубина проварки и т. д.
- Автоматическая оценка качества (пригоден/непригоден) и формирование отчета.
Больше, чем просто испытания на царапины
QSCRATCH 20 / QNESS 60 A+ EVO
Qscratch 20 является частью модульной платформы QATM. Помимо испытаний на царапины, по желанию можно интегрировать методы измерения твердости, функции анализа и другие испытания покрытий. Это снижает необходимость переключения между системами, объединяет результаты в привычной программной среде и обеспечивает долгосрочную безопасность инвестиций.
Испытания на твердость
Дополнительная функция измерения твердости по шкалам Виккерса, Кнупа, Бринеля и Роквелла — интегрирована в программную среду QpixControl2.
Анализ
Дополнительные функции анализа толщины покрытия, фаз, размера зерен и сварных швов — для получения дополнительной информации с помощью одной системы.
Испытания на царапины
Контролируемые испытания на царапины с постепенной или постоянной нагрузкой — для оценки покрытий, поверхностей и критических нагрузок.
Испытание на твердость
Интегрированные преобразования
DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150, ASTM E-140
* не соответствует стандартам
Технические характеристики
| Діапазон випробувального навантаження | 0.5* - 200 N |
| Постоянная нагрузка | Отдельные измерения |
| Прогрессивная нагрузка | Окремі вимірювання |
| Ось Z | 150 мм (5,91") |
| Положение инструмента | 8-позиционный моторизованный сменщик инструментов (макс. 3 модуля тестирования, макс. 7 линз) |
| Базовое оборудование, входящее в комплект | Алмаз по шкале Роквелла; линзы 5x, 20x, 50x |
| Типы линз | Стандартные (ахроматические) и высококачественные (полуапохроматические) для испытаний на твердость и микроскопии |
| Камера для съемки образцов изображений | 5 Мп — цветная CMOS-камера, USB 3.0; 52 × 39 мм (2,05 × 1,54 дюйма) |
| Поперечный суппорт | Моторизированные оси X/Y |
| Размер стола | 150 × 120 мм (5,91 × 4,72 дюйма) |
| Точность позиционирования | Оси X/Y: +/- 0,2 мкм |
| Линия пересечения | X 150, Y 150 мм (5,91 × 5,91 дюйма) |
| Элементы управления | Аварийная остановка, кнопка запуска, джойстик X/Y/Z |
| Максимальный вес образца | 50 кг |
| Вес прибора | 60 кг |
| Опционально | Модуль повышения уровня жесткости и модуль Qpix Inspect |