Сканирующие электронные микроскопы SEM и FIB-SEM
Сканирующие электронные микроскопы (SEM) сканируют образец сфокусированным электронным пучком и получают изображения, содержащие информацию о рельефе и составе образцов.
CSEM (обычные SEM с источником термических электронов) и FE-SEM (полевые эмиссионные SEM с источником эмиссионных электронов) от ZEISS обеспечивают высокое разрешение изображений и превосходный контраст материалов.
- ✔ Сканирующие электронные микроскопы (SEM) для академических и промышленных применений. Получите информацию о топографии и составе вашего образца. Высокоразрешающая информация о чувствительных поверхностях и контрасте материалов.
- ✔ Сканирующие электронные микроскопы со сфокусированным ионным пучком. Для научных и рутинных исследований.