Неразрушающий анализ
Одной из особенностей рентгеноструктурного анализа является его неразрушающий характер. Традиционные химические методы анализа, такие как ICP, часто требуют разрушения/растворения образцов, что делает их непригодными для дальнейшего тестирования или хранения.
Зато рентгенофлуоресцентные спектрометры позволяют исследовать материалы, не изменяя и не повреждая их. Это делает их бесценными для анализа ценных произведений искусства, исторических артефактов или незаменимых геологических образцов.
Количественное определение элементов
Основной функцией рентгенофлуоресцентных приборов является количественное определение элементов. Облучая образец рентгеновским излучением высокой энергии, рентгенофлуоресцентный анализатор может точно измерить концентрацию элементов в этом образце.
Такое количественное определение распространяется на все элементы периодической таблицы, от легких элементов, таких как углерод и кислород, до тяжелых металлов, таких как свинец и уран. Исследователи, производители и специалисты по контролю качества полагаются на рентгенофлуоресцентные анализаторы для получения точных данных об элементах.
Многоэлементный анализ
Рентгенофлуоресцентные анализаторы отлично справляются с многоэлементным анализом. Они могут одновременно обнаруживать и количественно определять несколько элементов в одном образце, предлагая полную картину его состава.
Эта возможность особенно полезна при работе со сложными материалами, сплавами или геологическими образцами с разнообразными элементарными компонентами.
Анализ материалов
Приборы для рентгеноструктурного анализа не ограничиваются определенным типом материала. Они могут анализировать самые разнообразные типы образцов, включая
Такая универсальность гарантирует, что рентгеновские анализаторы могут применяться в различных отраслях промышленности, от производства и фармацевтики до геологии и экологии.
■ Malvern Panalytical Zetium - Рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр с опцией энергодисперсионного детектора. Новейшая и революционная разработка компании Malvern Panalytical обеспечивает высокоточный и быстрый анализ химического состава любых материалов от Be до U.
■ Malvern Panalytical Axios FAST Промышленный рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр параллельного типа для экспресс-анализа химического состава. Спектрометр Axios FAST - самый быстродействующий параллельный WDXRF спектрометр в мире.
■ Malvern Panalytical Epsilon 1 - Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный настольный спектрометр для анализа химического состава от Na до Am.
■ Спектрометры Malvern Panalytical серии Epsilon 4 - многофункциональный настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр для любого сегмента промышленности, требующего элементного анализа от фтора (F) до америция (Am) в сферах от исследований и разработок до контроля технологических процессов.
■ Malvern Panalytical 2830 ZT - Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр для анализа тонких пленок. Разработан специально для полупроводниковой промышленности, позволяет определять состав покрытия, толщину покрытия, однородность покрытия для широкого диапазона полупроводниковых пластин толщиной до 300 мм.
■ Malvern Panalytical Epsilon Xflow - рентгеновский спектрометр для анализа жидкостей. Epsilon Xflow обеспечивает анализ данных в режиме реального времени, что позволяет более эффективно управлять производственными процессами и снизить операционные расходы.
Revontium | Zetium | Epsilon range | Epsilon Xflow | 2830 ZT | Axios FAST | |
Тип измерения | ✘ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ |
Метрология тонких пленок | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ |
Элементный анализ | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✘ |
Обнаружение и анализ загрязнений | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ |
Количественное определение элементов | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✘ |
Химическая идентификация | ✘ | ✘ | ✘ | ✘ | ✔ | ✘ |
Технология | ||||||
Рентгеновская флуоресценция (XRF) | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ |
Волновая дисперсионная рентгеновская флуоресценция (WDXRF) | ✘ | ✔ | ✘ | ✘ | ✔ | ✔ |
Энергодисперсионная рентгеновская флуоресценция (EDXRF) | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ | ✘ | ✘ |
Спектр элементов | Na-Am | Be-Am | F-Am | Na-Am | B-Am | B-Am |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Разрешающая способность (Mn-Ka) | 145eV | 35eV | 145eV | 135eV | 35eV | 35eV |
Пропускная способность образца | до - 200 за 8 часов в сутки | до - 240 за 8 часов в сутки | до - 160 за 8 часов в сутки | он-лайн/беспрерывно | до 25 пластин в час | до - 480 за 8 часов в сутки |
Формат | Компактный | Напольный WDXRF | Настольный EDXRF | В реальном времени | Наполовину | Напольный WDXRF |