Рентгеновские спектрометры (анализатор) металлов и сплавов

Malvern Panalytical предлагает широкий спектр рентгенофлуоресцентных спектрометров и сопутствующих продуктов для элементного и тонкопленочного анализа. Эти рентгенофлуоресцентные анализаторы подходят для широкого спектра требований к анализу и производительности, а также рабочих сред. Спектрометры варьируются от энергодисперсионных настольных рентгенофлуоресцентных систем до высокопроизводительных рентгенофлуоресцентных систем с дисперсией по длине волны и продуктов для измерения полупроводников.
Рентгенофлуоресцентные спектрометры можно конфигурировать с помощью специального программного обеспечения для конкретных типов рентгенофлуоресцентного анализа. В сочетании с прикладными модулями (конфигурация программы, калибровка и стандарты) или в пакете с продуктами для пробоподготовки создаются комплексные аналитические решения.

Спектрометры для рентгеновского флуоресцентного анализа:

■ Malvern Panalytical Zetium - Рентгенофлуоресцентный волнодисперсионный спектрометр с опцией энергодисперсионного детектора. Новейшая и революционная разработка компании Malvern Panalytical обеспечивает высокоточный и быстрый анализ химического состава любых материалов от Be до U.

■ Malvern Panalytical Axios FAST Промышленный рентгенофлуоресцентный волновой спектрометр параллельного типа для экспресс-анализа химического состава. Спектрометр Axios FAST - самый быстродействующий параллельный WDXRF спектрометр в мире.

■ Malvern Panalytical Epsilon 1 - Рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный настольный спектрометр для анализа химического состава от Na до Am.

■ Спектрометры Malvern Panalytical серии Epsilon 4 - многофункциональный настольный рентгенофлуоресцентный спектрометр для любого сегмента промышленности, требующего элементного анализа от фтора (F) до америция (Am) в сферах от исследований и разработок до контроля технологических процессов.

■ Malvern Panalytical 2830 ZT - Волнодисперсионный рентгеновский спектрометр для анализа тонких пленок. Разработан специально для полупроводниковой промышленности, позволяет определять состав покрытия, толщину покрытия, однородность покрытия для широкого диапазона полупроводниковых пластин толщиной до 300 мм.

■ Malvern Panalytical Epsilon Xflow - рентгеновский спектрометр для анализа жидкостей. Epsilon Xflow обеспечивает анализ данных в режиме реального времени, что позволяет более эффективно управлять производственными процессами и снизить операционные расходы.

RevontiumZetiumEpsilon rangeEpsilon Xflow2830 ZTAxios FAST
Тип измерения
Метрология тонких пленок 
Элементный анализ
Обнаружение и анализ загрязнений
Количественное определение элементов
Химическая идентификация
Технология
Рентгеновская флуоресценция (XRF)
Волновая дисперсионная рентгеновская флуоресценция (WDXRF)
Энергодисперсионная рентгеновская флуоресценция (EDXRF)
Спектр элементовNa-AmBe-AmF-AmNa-AmB-AmB-Am
LLD0.1 ppm - 100%0.1 ppm - 100%1 ppm - 100%1 ppm - 100%0.1 ppm - 100%0.1 ppm - 100%
Разрешающая способность (Mn-Ka)145eV35eV145eV135eV35eV35eV
Пропускная способность образцадо - 200 за 8 годин на деньдо - 240 за 8 годин на добудо - 160 за 8 годин на добуон-лайн/безперервнодо 25 пластин на годинудо - 480 за 8 годин на добу
ФорматКомпактныйНапольный WDXRFНастольный EDXRFВ реальном времени НаполовинуНапольный WDXRF