Високоточний та швидкий рентгенівський дифрактрометр Aeris. Точні результати можуть бути готові менш ніж за п'ять хвилин. Таке швидке отримання високоякісних даних раніше досягалося лише за допомогою великих підлогових рентгенофлуоресцентних дифрактрометрів. Компактний Aeris - невеликий, потужний і перший у своєму роді.
Дослідницький комплекс з HighScore та дифрактометра Aeris Research - найкомплексніше рішення PANalytical для порошкової дифракції, що підтримує всі відомі бази даних пошукових відповідностей для ідентифікації фаз. Дифрактометр Aeris може використовуватись для вирішення наступних завдань:
Дифрактрометр AERIS Cement (для цементної промисловості)
Дифрактометр Aeris Cement безпосередньо досліджує мінералогічний склад цементу та його проміжних сполук. Ця інформація дозволяє оцінювати фізичні властивості для більш ефективного контролю виробництва, наприклад, контролювати піч при використанні альтернативних видів палива. Це додатково сприяє покращенню якості (багатокомпонентного) цементу. Дифрактометр Aeris Cement - це простий у використанні та автоматизації настільний рентгенівський дифрактометр для будь-якого цементного заводу.
Екологічність та ефективність виробництва
Міцність, характеристики схоплювання, гідраційні властивості та хімічна стійкість цементу безпосередньо пов'язані з його мінералогічним складом. Рентгенівська дифракція (XRD) - це метод прямого дослідження мінералів у цементі, що дозволяє точніше прогнозувати фізичні властивості кінцевого продукту в процесі виробництва та підвищити ефективність та екологічність технологічного процесу.
Дифрактометр Aeris Cement - Ваш надійний помічник на всіх етапах процесу виробництва цементу, починаючи від сировинного борошна, клінкеру та багатокомпонентного цементу і закінчуючи готовою продукцією.
Дифрактрометр AERIS Minerals (для аналізу мінералів)
Оптимізація переробки руди
Завдяки настільному рентгенівському дифрактометру Aeris Minerals універсальний аналіз руди доступний всім, хто працює в гірничодобувній промисловості.
Ефективна переробка руд та мінеральної сировини
Метод рентгенівської дифракції здатний забезпечити точний моніторинг мінералів і давати вхідні дані для гідрометалургійних моделей з метою визначення найбільш економічних режимів переробки.
Настільний дифрактометр Aeris Minerals є вашим помічником на всіх етапах виробничого процесу, від сировини до готового продукту.
Швидкий аналіз, максимальний час безперервної роботи
Швидкий аналіз мінімізує цикли зворотного зв'язку та дозволяє втручатися у процес на ранніх етапах для оптимізації технологічних процесів. Стандартний час аналізу одного зразка для дифрактометра Aeris становить менше ніж 10 хвилин.
Час безперервної роботи аналітичного обладнання є основою надійного управління виробничим процесом. Дифрактометр Aeris спочатку розроблявся з розрахунком на максимальний час безперервної роботи.
Дифрактрометр AERIS Metals (для аналізу металів)
Оптимізація процесу виготовлення сталі
Aeris Metals - це настільний рентгенівський дифрактометр для швидкого та надійного аналізу агломерату, заліза прямого відновлення та залишкового аустеніту. Дифрактометр Aeris повністю автоматизований і його можна легко впровадити в систему управління промисловим виробництвом.
Економічне та високоякісне виробництво металів
Рентгенівська дифракція (XRD) - ключовий метод на всіх етапах виробництва сталі. Це цінний інструмент для швидкого та точного аналізу сировинних та проміжних матеріалів, що використовуються у процесі виготовлення сталі (наприклад, залізна руда, агломерат та залізо прямого відновлення). Метод XRD також ідеально підходить для контролю якості кінцевої продукції, оскільки він забезпечує швидкий та точний кількісний аналіз фаз у металі, наприклад, залишкового аустеніту.
Дифрактометр Aeris Metals - Ваш помічник на всіх етапах виробничого процесу, від сировини до готового продукту.
Дифрактрометр Aeris XRD (для фармацевтичної галузі)
Аналіз твердих форм для розробки та виробництва фармацевтичних препаратів
Скористайтеся перевагами надійності Aeris, а також багаторічним досвідом і підтримкою Malvern Panalytical, що забезпечує ідеальне рішення для будь-якої проблеми з твердими формами. Aeris швидко і легко виявляє:
Aeris гарантує склад ваших лікарських засобів і усуває будь-які проблеми, виконуючи важку роботу за вас!
Рентгенівська порошкова дифракція (XRPD або просто XRD) ідентифікує і точно кількісно визначає всі компоненти в ваших зразках, використовуючи HighScore Suite. Система легко поєднується з нашим програмним забезпеченням OmniTrust для тих, хто працює в регульованому середовищі. Разом OmniTrust і Aeris забезпечують валідацію твердих форм з повною цілісністю даних і дотриманням нормативних вимог.
Від кристалічних до аморфних препаратів, від порошків до суспензій і кінцевих лікарських форм - Aeris і Malvern Panalytical готові допомогти вам.
Базова система | Дифрактометр із фокусуванням за Бреггом-Брентано, з вертикальним θ-θ гоніометром.
Нікелеві бета-фільтри (на прямий і дифрагований пучки), приставка обертання зразків для тримачів 51.5 мм, щілини Соллера 0.04 радіана (на прямий і дифрагований пучки), щілини фіксованої апертури (розбіжності та анти-розсіювальна) |
Діапазон кутів 2θ | від -30 до 1450 |
Радіус гонеометра | 145 мм |
Високовольтний генератор | Базовий: 300 Вт, стандартний режим 40 КВ/7,5 мА Підвищеної потужності: 600 Вт, 40 КВ /15 мА |
Рентгенівська трубка | Керамічна рентгенівська трубка з мідним анодом (довгий тонкий фокус) виробництва PANalytical. Швидкодіючий лінійний детектор PIXcel1D (спільна
розробка PANalytical і колаборації Medipix3) |
Модуль Дебая Шеррера | Дає змогу візуалізувати й аналізувати Дебаєвські кільця під час досліджень текстури та ступеня кристалічності зразків. |
Програмне забезпечення HIGH
SCORE | Пакет програмного забезпечення виконує обробку і проведення фазового аналізу, а також: вбудований калькулятор Шеррера для визначення розмірів кристалітів і мікронапруг решітки;
індикування, вилучення інтенсивностей методами Pawley і Le Bail, аналіз за методом Рітвельда; кластерний аналіз з необмеженими можливостями за кількістю даних; автоматичний аналіз за методом Рітвельда з використанням RoboRiet; уточнення параметрів елементарної комірки; перегляд структур, обчислення відстаней і кутів; аналіз профілів піків |