Рентгенофлуоресцентні спектрометри можна конфігурувати за допомогою спеціального програмного забезпечення для конкретних типів рентгенофлуоресцентного аналізу. У поєднанні з прикладними модулями (конфігурація програми, калібрування і стандарти) або в пакеті з продуктами для пробопідготовки створюються комплексні аналітичні рішення.
Таке кількісне визначення поширюється на всі елементи періодичної таблиці, від легких елементів, таких як вуглець і кисень, до важких металів, таких як свинець та уран. Дослідники, виробники і фахівці з контролю якості покладаються на рентгенофлуоресцентні аналізатори для отримання точних даних про елементи.
Рентгенофлуоресцентні аналізатори відмінно справляються з багатоелементним аналізом. Вони можуть одночасно виявляти та кількісно визначати кілька елементів в одному зразку, пропонуючи повну картину його складу.
Ця можливість особливо корисна при роботі зі складними матеріалами, сплавами або геологічними зразками з різноманітними елементарними компонентами.
Прилади для рентгеноструктурного аналізу не обмежуються певним типом матеріалу. Вони можуть аналізувати найрізноманітніші типи зразків, включаючи
Така універсальність гарантує, що рентгенівські аналізатори можуть застосовуватися в різних галузях промисловості, від виробництва і фармацевтики до геології та екології.
■ Malvern Panalytical Zetium - Рентгенофлуоресцентний хвильодисперсійний спектрометр із опцією енергодисперсійного детектора. Новітня та революційна розробка компанії Malvern Panalytical забезпечує високоточний та швидкий аналіз хімічного складу будь-яких матеріалів від Be до U.
■ Malvern Panalytical Axios FAST Промисловий Рентгенофлуоресцентний хвильовий спектрометр паралельного типу для експрес-аналізу хімічного складу. Спектрометр Axios FAST - найбільш швидкодіючий паралельний WDXRF спектрометр у світі.
■ Malvern Panalytical Epsilon 1 - Рентгенофлуоресцентний енергодисперсійний настільний спектрометр для аналізу хімічного складу від Na до Am.
■ Спектрометри Malvern Panalytical серії Epsilon 4 - багатофункціональний настільний рентгенофлуоресцентний спектрометр для будь-якого сегмента промисловості, що потребує елементного аналізу від фтору (F) до америцію (Am) в сферах від досліджень і розробок до контролю технологічних процесів.
■ Malvern Panalytical 2830 ZT - Волнодисперсійний рентгенівський спектрометр для аналізу тонких плівок. Розроблений спеціально для напівпровідникової промисловості, що дозволяє визначати склад покриття, товщину покриття, однорідність покриття для широкого діапазону напівпровідникових пластин товщиною до 300 мм.
■ Malvern Panalytical Epsilon Xflow - рентгенівський спектрометр для аналізу рідин. Epsilon Xflow забезпечує аналіз даних в режимі реального часу, що дозволяє більш ефективно управляти виробничими процесами і знизити операційні витрати.
Revontium | Zetium | Epsilon range | Epsilon Xflow | 2830 ZT | Axios FAST | |
Тип вимірювання | ✘ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ |
Метрологія тонких плівок | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ |
Елементний аналіз | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✘ |
Виявлення та аналіз забруднень | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ |
Кількісне визначення елементів | ✔ | ✔ | ✔ | ✘ | ✔ | ✘ |
Хімічна ідентифікація | ✘ | ✘ | ✘ | ✘ | ✔ | ✘ |
Технологія | ||||||
Рентгенівська флуоресценція (XRF) | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ | ✔ |
Хвильова дисперсійна рентгенівська флуоресценція (WDXRF) | ✘ | ✔ | ✘ | ✘ | ✔ | ✔ |
Енергодисперсійна рентгенівська флуоресценція (EDXRF) | ✔ | ✘ | ✔ | ✔ | ✘ | ✘ |
Спектр елементів | Na-Am | Be-Am | F-Am | Na-Am | B-Am | B-Am |
LLD | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Роздільна здатність (Mn-Ka) | 145eV | 35eV | 145eV | 135eV | 35eV | 35eV |
Пропускна здатність зразка | до - 200 за 8 годин на день | до - 240 за 8 годин на добу | до - 160 за 8 годин на добу | он-лайн/безперервно | до 25 пластин на годину | до - 480 за 8 годин на добу |
Формат | Компактний | Підлоговий WDXRF | Настільний EDXRF | В реальному часі | Напів | Підлоговий WDXRF |