Скануючі електронні мікроскопи SEM та FIB-SEM
Скануючі електронні мікроскопи (SEM) сканують зразок сфокусованим електронним пучком і отримують зображення, що містять інформацію про рельєф та склад зразків.
CSEM (звичайні SEM з джерелом термічних електронів) і FE-SEM (польові емісійні SEM з джерелом емісійних електронів) від ZEISS забезпечують високу роздільну здатність зображень і чудовий контраст матеріалів.
- ✔ Скануючі електронні мікроскопи (SEM) для академічних та промислових застосувань. Отримайте інформацію про топографію та склад вашого зразка.. Високороздільна інформація про чутливі поверхні та контраст матеріалів.
- ✔ Скануючі електронні мікроскопи зі сфокусованим іонним пучком. Для наукових і рутинних досліджень.