Паралельний спектрометр Axios FAST

Артикул: Axios FAST

Найшвидший WDXRF - спектрометр на ринку

Axios FAST - це остання модель паралельних хвиледисперсійних рентгено-флуоресцентних спектрометрів (WDXRF-спектрометрів) PANalytical. Спектрометр побудований на ефективній платформі Axios та призначений для швидкого та продуктивного виконання завдань, у яких від швидкості аналізу залежить прибуток. Спектрометр дозволяє отримувати точні результати всіх необхідних елементів у межах однієї хвилини з моменту завантаження зразка.
Axios FAST дозволяє виконувати одночасні вимірювання до 28 елементів, що забезпечує надзвичайно високу швидкість аналізу для технологічного контролю в режимі реального часу. Щоденна продуктивність може перевищувати 1000 зразків. Цей прилад є ідеальним варіантом для металургійної та гірничодобувної галузі, а також для аналітичних лабораторних завдань:
Сталі, феросплави, метали, сплави, мінерали, руди, гірські породи, сплави, феросплави, цемент, клінкер, кераміка, скло, будівельні матеріали, нафтохімічні та полімерні продукти, пластики, напівпровідники, сонячні батареї, наноматеріали, композити.

Axios FAST - перший вибір для проектів автоматизації

Швидкі результати в умовах обмеженого часу

Завдяки тому, що результати аналізу можна отримати всього за кілька секунд, елементний аналізатор Axios FAST є ідеальним інструментом для застосування в умовах обмеженого часу і високої пропускної здатності аналізу. Основні області застосування включають виробництво сталі і металевих сплавів, а також геологічні або комерційні лабораторії, де щодня потрібно аналізувати сотні зразків. 

Особливості та переваги

Фокусувальні та компактні гоніометри для сканування та універсального аналізу
Приклад комплектації для аналізу металургійних шлаків та напівкількісного аналізу невідомих за складом матеріалів

  • Рентгенівська трубка SST-mAX 4.0 кВт
  • 23 фіксовані канали
  • 2 скануючі канали-гоніометри (компактний від Sc до U та гострофокусний від Al до Fe)
  • Система захисту трубки та вимірювальної вакуум-камери від забруднення
  • Програмне забезпечення SuperQ 4.0 для кількісного аналізу в комплекті зі SPC-модулем (статистичний модуль обробки даних потокового аналізу)
  • Програмний модуль напівкількісного аналізу IQ+ для дослідження вмісту елементів від Al до U
  • Система продування гелієм для аналізу рідин
  • Швидкісний змінник зразків із системою прямого завантаження

    Скануючі канали

    Можливе встановлення 4-х гоніометрів двох видів для кількісного напівкількісного аналізу в комплекті з програмним модулем IQ+ для дослідження невідомих проб:

    • Вакуумного гострофокусного гоніометра для аналізу елементів від Аl до Fe (займає місце 3-х каналів);
    • Компактного гоніометра для аналізу елементів від Sc до U (займає місце одного фіксованого каналу).
    • АвтоматизаціяАвтоматизаціяПідвищена продуктивність

      Axios FAST призначений і для автоматизованих лабораторій шляхом комплектації його автоматичним конвеєром для передачі проби на лоток.

      При роботизованій подачі зразків прилад являє собою справжню «міні-фабрику» з проведення найточнішого експрес-аналізу. Після передачі зразка на приймальний столик координатний ХY-завантажувач забирає пробу, розпізнає та подає у камеру вимірювання. Кожна позиція кодується. Це дозволяє виконувати аналіз без участі оператора, заощаджує час, не допускає помилки завантаження проби.

      Швидкісне завантаження зразків

      • При ручній подачі зразків на лоток використовуються спеціальні підноси на 12 та 24 позиції.
      • Лоток приладу може вміщувати до 168 зразків різного діаметру, приготованих різними методами: сплавлення, пресування, а також вільні порошки, металеві проби, рідини.

      Безперервне завантаження зразка

        • Дозволяє заощадити 30 секунд/зразок
        • Значно збільшує швидкість та гнучкість аналізу
        • Новий зразок завантажується, коли попередній зразок ще вимірюється
        • Під час вивантаження першого зразка наступний - вже завантажується у позицію вимірювання

        Перевірене та спеціалізоване програмне забезпечення для мінімального втручання оператора

        Axios FAST працює з останньою версією програмного забезпечення SuperQ XRF від Malvern Panalytical, відомого своїм інтуїтивно зрозумілим інтерфейсом і меню. Навіть недосвідчений оператор може виконувати рутинні аналізи з мінімальним обсягом інструктажу, проте програмне забезпечення все ще містить аналітичну потужність і можливості, необхідні для задоволення вимог найдосвідченіших користувачів.

        Створено для автоматизації

        Спеціальні програмні та апаратні інтерфейси Axios FAST забезпечують гнучке підключення до пристроїв транспортування зразків і хост-комп'ютерів для повністю автоматизованого аналізу. Axios FAST також є основою рішення TEAMworks (модуль аналізу повних елементів), що поєднує в собі OES і WDXRF.

        Технічна характеристка

        Діапазонобумовлені елементи від Be до U
        Межі виявленнявід долей ppm до 100%
        Рентгенівська трубкагострофокусна трубка з торцевим вікном з технологією ZETA (технологія нульового випаровування катода трубки). Ця технологія дозволяє зберігати постійну інтенсивність трубки протягом усього терміну її експлуатації
        Матеріал анодародій (Rh) або хром (Сr) опціонально другі по замовленню
        Напруга рентгенівської трубки10 -60 кВт стабільність 0,00006%
        Потужність рентгенівської трубки4,0 кВт
        Детектуюча системаІндивідуальний детектор на кожен канал, пропорційні відпаяні, проточні лічильники або сцинтилятори в залежності від елемента, що аналізується
        Гоніометрнезалежний /2 (тета - 2 тета) з прямим оптичним позиціонуванням (DOPS)
        Автосамплери12, 24 або 168-позиційні, X-Y робот завантаження
        Типи пробтверді, пресовані та сипучі порошки, сплавлені диски, рідини
        Система завантаженнясистема безперервного завантаження зразків

        Аксесуари паралельного спектрометра Axios FAST

        • Omnian - модуль для проведення безстандартного аналізу.
        • Пристрій збору пилу призначений для запобігання перехресному забрудненню та збільшення терміну служби приладу.
        • Stratos - Аналіз товщини покриттів
        • Автосамплер - швидкий X-Y змінник зразків із пріоритетним положенням для 1 зразка.
        • Статистичний аналіз результатів SPC-SQ
        • Універсальний інтерфейс для автоматизації UAI
        • Фокусуючі та компактні гоніометри для сканування та універсального аналізу