Микротвердомер QATM Qscratch 20 GO для испытания покрытий

Артикул: Qscratch 20 GO

Qscratch 20 GO — это полуавтоматический твердомер для макро- и микроисследований устойчивости покрытий к царапинам, предназначенный для стандартизированного контроля качества покрытий и поверхностей. Он разработан для лабораторий, которым требуются стандартизированные испытания на устойчивость к царапинам, надежная работа и отслеживаемые результаты — особенно для единичных измерений с прогрессивной или постоянной нагрузкой.

Система объединяет динамически автоматизированную ось Z, моторизованную ось Y, электронную регулировку усилия и интуитивно понятное программное обеспечение QpixControl2 в практичный рабочий процесс для рутинных испытаний поверхностей и покрытий. Испытания на царапины можно проводить в контролируемых условиях, оценивать визуально и документировать в структурированных протоколах испытаний. Qscratch 20 GO соответствует соответствующим стандартам, в частности DIN EN ISO 20502, ASTM C1624, ISO 27307 и ASTM G171, что делает его компактным решением для мониторинга на производстве, рутинных испытаний и получения воспроизводимых результатов испытаний на царапины.

Преимущества прибора для испытаний на царапины на микро- и макроуровнях Qscratch 20 GO

  • Полуавтоматический макро-/микро-тестер на царапины для стандартизированных рабочих процессов контроля качества
  • Компактное решение для рутинных испытаний и производственных целей
  • Электронное регулирование силы с диапазоном испытательной нагрузкой 0,5–200 Н
  • Постоянная и прогрессивная нагрузка для проведения испытаний на царапины в соответствии со стандартами
  • 8-позиционный автоматический сменщик инструментов для тестовых модулей и линз
  • Динамически автоматизированная ось Z и моторизированная ось Y
  • Программное обеспечение QpixControl2 с пошаговым алгоритмом обнаружения царапин
  • Структурированная оценка и формирование отчетов для обеспечения прослеживаемости результатов

Методы испытаний и диапазон нагрузок



Метод: Прогрессивная нагрузка
Определяются начальная и конечная нагрузки, а также скорость нагружения. Нагрузка увеличивается по длине царапины; видимые явления можно обозначить как точки Lc в соответствующих положениях.
ISO: PFST — испытание на царапину с прогрессивной нагрузкой
ASTM: PL — прогрессивная нагрузка
Lc: Критическая нагрузка
Метод: Постоянная нагрузка
Сила прижима остается неизменной на всей длине царапины. Этот метод подходит для единичных измерений, серийных сравнений и повторяемых условий испытаний в рамках контроля качества.
ISO: CFST — испытание на царапину с постоянной силой
ASTM: CL — постоянная нагрузка
Lc: Критическая нагрузка

Четко обозначенное начало. Контролируемая нагрузка. Четкая оценка

Во время испытания на царапины алмазный наконечник перемещается по поверхности с покрытием под действием заданной прикладываемой силы. Видимые явления, такие как образование трещин, отколы или проникновение в покрытие, локализуются вдоль царапины и привязываются к соответствующей критической нагрузке. Таким образом, царапина не только указывает на то, что происходит разрушение, но и показывает, где именно это происходит, — и позволяет отследить нагрузку в критической точке.

Определение и классификация повреждений

Lc1 — Начальное образование трещин / пластическая деформация

Lc2 — Отслоение

Lc3 — Проникновение покрытия вплоть до основания

Керамические покрытия. Оценка адгезии и типов разрушения.

В этом интерактивном разделе показано, как анализируются типичные случаи разрушения вдоль линии царапины. Щелкните по точкам LC, чтобы увидеть, как образование трещин, отколы и проникновение покрытия связаны с конкретными положениями и нагрузками.

Тонкие твердые керамические покрытия (обычно 0,1–30 мкм)

  • Карбид: TiC, CrC
  • Нитрид: TiN, CrN, TiAlN
  • Оксид: Al₂O₃
  • Алмаз: алмазное покрытие
  • Алмазоподобный углерод: DLC

Тонкие твердые керамические и технические покрытия (обычно ≤ 20 мкм)

  • PVD TiN
  • PACVD DLC
  • DLC, нанесенный методом дугового разряда
  • PVD/PACVD Cr-C
  • PVD Al₂O₃
  • Твердый хром

Подсвеченный индикатор состояния

Вносит свет в темноту
Подсвеченный логотип QATM позволяет сразу определить текущее состояние устройства. Различные интервалы мигания указывают, работает ли устройство в автоматическом режиме или оно готово к выполнению новых задач персоналом по всей лаборатории. Кроме того, светодиодная подсветка рабочей зоны, установленная в стандартной комплектации, обеспечивает правильное размещение образцов и держателей для образцов.
В модели Qscratch 20 это также обеспечивает равномерную интенсивность освещения для визуализации образцов.

Рабочий процесс 

Простое тестирование, эффективный анализ

QpixControl2 — это больше, чем просто пользовательский интерфейс: это программное обеспечение сочетает в себе запатентованную концепцию 3D-интерфейса с бесперебойным рабочим процессом «Scratch». Можно легко создавать испытания, визуально размещать следы царапин, автоматически обрабатывать отдельные измерения и структурированно оценивать соответствующие события Lc. От определения испытания через фиксацию изображения и оценку до управления данными, экспорта и стандартизированной отчетности — все этапы остаются интегрированными в интуитивно понятной программной среде. Это снижает операционные затраты, способствует воспроизводимости процессов и обеспечивает эффективное использование испытаний на царапины в рамках обеспечения качества, ориентированного на производство.

3 шага к результату

1. Загрузка образца

Держатель образца автоматически перемещается на нужную высоту, после чего автоматически производится съемка изображения образца.

2. Расположение

Перетащите начальную точку теста на царапины непосредственно на нужное место.

3. Запуск последовательности испытаний

Последовательность испытаний выполняется полностью автоматически и в соответствии со стандартами испытаний Scratch. После этого случаи отказа можно проанализировать и отнести к соответствующим точкам Lc.

Программное обеспечение

Встроенные функции

Программное обеспечение

Параметры

Микроскопия и анализ

Qpix Inspect для измерения микроскопической толщины и испытания адгезии по методу Роквелла

Дополнительные модули Qpix Inspect расширяют возможности прибора Qscratch 20, добавляя практичные функции для оценки покрытий. Функция измерения микроскопической толщины покрытия по методу испытания на образование кратеров соответствует стандарту DIN EN ISO 26423, а испытание на адгезию по методу Роквелла позволяет проводить качественную оценку адгезии керамических покрытий в соответствии со стандартом DIN EN ISO 26443. Это позволяет собирать, оценивать и документировать дополнительную информацию о качестве покрытия непосредственно в привычной программной среде QpixControl2.

Qpix Inspect для микроскопических исследований

Интуитивно понятное и удобное в использовании программное обеспечение Qpix INSPECT предоставляет полный набор инструментов для микроскопических исследований и документирования результатов. Это многофункциональное программное обеспечение можно настроить под конкретные измерительные задачи заказчика и дополнить дополнительными модулями.

Анализ фаз

  • Автоматическое измерение размеров объектов на изображении
  • Оценка доли фаз в соответствии со стандартами ISO 9042 и ASTM E562
  • Предоставляет результаты анализа в виде процентных долей поверхности или номинальных значений поверхности в виде таблиц или диаграмм


Проверка измерение толщины слоя

  • Определение толщины слоя в соответствии со стандартом DIN EN ISO 1463
  • Полуавтоматическое измерение горизонтальных, вертикальных и радиальных слоев
  • Предоставление данных о толщине слоя в виде статистических значений для различных отрезков в виде таблиц или диаграмм

Проверка определения размера частиц

  • Размер частиц определяется в соответствии со стандартами DIN EN ISO 643 и ASTM E112 методом линейного или кругового разреза
  • Результаты анализа предоставляются в виде таблиц или диаграмм
  • Документация статистических характеристик размера частиц и длин сегментов, проходящих через частицы

Инспекция

  • Измерение сварных швов
  • Стандартизированное измерение и оценка сварных швов
  • Готовые шаблоны со всеми необходимыми измерительными инструментами, такими как толщина горловины, армирование сварного шва, глубина проварки и т. д.
  • Автоматическая оценка качества (пригоден/непригоден) и формирование отчета.

Технические характеристики

Діапазон випробувального навантаження0.5* - 200 N
Постоянная нагрузкаОтдельные измерения
Прогрессивная нагрузкаОкремі вимірювання
Ось ZДинамический, автоматизированный (CAS-Technic), ход по оси Z — 150 мм (5,91 дюйма)
Положение инструмента8-позиционный моторизованный сменщик инструментов (макс. 3 модуля тестирования, макс. 7 линз)
Базовое оборудование, входящее в комплектАлмаз по шкале Роквелла; линзы 20x, 50x
Типы линзСтандартные (ахроматические) и высококачественные (полуапохроматические) для испытаний на твердость и микроскопии
Камера для съемки образцов изображений-
Поперечный суппортМоторизированная ось Y
Размер стола150 × 120 мм (5,91 × 4,72 дюйма)
Точность позиционированияОсь Y: +/- 0,2 мкм
Линия пересеченияY 150 мм (5,91")
Элементы управленияАварийная остановка, кнопка «Пуск», джойстик Y/Z
Максимальный вес образца50 кг (110 фунтов)
Вес прибора58 кг (127,9 фунтов)
ОпциональноМодуль Qpix Inspect