Мікротвердомір QATM Qscratch 20 GO для випробування покриттів
Переваги приладу для випробування на подряпини на мікро- та макрорівнях Qscratch 20 GO
|
|
Методи випробувань та діапазон навантажень
| Метод: Прогресивне навантаження Визначаються початкове та кінцеве навантаження, а також швидкість навантаження. Навантаження збільшується вздовж довжини подряпини; видимі події можна позначити як точки Lc у відповідних позиціях. ISO: PFST — випробування на подряпину з прогресивним навантаженням ASTM: PL — прогресивне навантаження Lc: Критичне навантаження | Метод: Постійне навантаження Сила притиску залишається незмінною протягом усієї довжини подряпини. Цей метод підходить для окремих вимірювань, серійних порівнянь та повторюваних умов випробувань у рамках контролю якості. ISO: CFST — випробування на подряпину з постійною силою ASTM: CL — постійне навантаження Lc: Критичне навантаження |
Чітко визначений початок. Контрольоване навантаження. Чітка оцінка
Під час випробування на подряпини алмазний наконечник переміщується по поверхні з покриттям під дією заданої прикладної сили. Видимі явища, такі як утворення тріщин, відколювання або проникнення в покриття, локалізуються вздовж подряпини та прив’язуються до відповідного критичного навантаження. Таким чином, подряпина не тільки вказує на те, що відбувається руйнування, а й показує, де саме це відбувається, — і дозволяє відстежити навантаження в критичній точці.
Визначення та класифікація пошкоджень
Lc1 — Початкове утворення тріщин / пластична деформація
Lc2 — Відшарування
Lc3 — Проникнення покриття аж до основи
Керамічні покриття. Оцінка адгезії та типів руйнування.
У цьому інтерактивному розділі показано, як аналізуються типові випадки руйнування вздовж лінії подряпини. Клацніть на точки LC, щоб побачити, як утворення тріщин, відколювання та проникнення покриття пов’язані з конкретними положеннями та навантаженнями.
Тонкі тверді керамічні покриття (зазвичай 0,1–30 мкм)
| Тонкі тверді керамічні та технічні покриття (зазвичай ≤ 20 мкм)
|
Підсвічений індикатор стану
Робочий процес
Просте тестування, ефективний аналіз
QpixControl2 — це більше, ніж просто користувацький інтерфейс: це програмне забезпечення поєднує запатентовану концепцію 3D-інтерфейсу з безперебійним робочим процесом «Scratch». Можна легко створювати випробування, візуально розміщувати сліди подряпин, автоматично обробляти окремі вимірювання та структуровано оцінювати відповідні події Lc. Від визначення випробування через фіксацію зображення та оцінку до управління даними, експорту та стандартизованої звітності — усі етапи залишаються інтегрованими в інтуїтивно зрозумілому програмному середовищі. Це зменшує операційні зусилля, сприяє відтворюваності процесів та забезпечує ефективне використання випробувань на подряпини в рамках забезпечення якості, орієнтованого на виробництво.
3 кроки до результату
1. Завантаження зразка
Тримач зразка автоматично переміщується на потрібну висоту, після чого автоматично здійснюється зйомка зображення зразка.
2. Розташування
Перетягніть початкову точку тесту на подряпини безпосередньо на потрібне місце.
3. Запуск послідовності випробувань
Послідовність випробувань виконується повністю автоматично та відповідно до стандартів випробувань Scratch. Після цього випадки відмови можна проаналізувати та віднести до відповідних точок Lc.
Програмне забезпечення
Вбудовані функції
Програмне забезпечення
Параметри
Мікроскопія та аналіз
Qpix Inspect для вимірювання мікроскопічної товщини та випробування адгезії за методом Роквелла
Додаткові модулі Qpix Inspect розширюють можливості приладу Qscratch 20, додаючи практичні функції для оцінки покриттів. Функція вимірювання мікроскопічної товщини покриття за методом випробування на утворення кратерів відповідає стандарту DIN EN ISO 26423, а випробування на адгезію за методом Роквелла дозволяє проводити якісну оцінку адгезії керамічних покриттів відповідно до стандарту DIN EN ISO 26443. Це дає змогу збирати, оцінювати та документувати додаткову інформацію про якість покриття безпосередньо у звичному програмному середовищі QpixControl2.
Qpix Inspect для мікроскопічних досліджень
Інтуїтивно зрозуміле та зручне у використанні програмне забезпечення Qpix INSPECT надає повний набір інструментів для мікроскопічних досліджень та документування результатів. Це багатофункціональне програмне забезпечення можна налаштувати під конкретні вимірювальні завдання замовника та доповнити додатковими модулями.
Аналіз фаз
- Автоматичне вимірювання розмірів об’єктів на зображенні
- Оцінка частки фаз відповідно до стандартів ISO 9042 та ASTM E562
- Надає результати аналізу у вигляді відсоткових часткок поверхні або номінальних значень поверхні у вигляді таблиць чи діаграм
Перевірка вимірювання товщини шару
- Визначення товщини шару відповідно до стандарту DIN EN ISO 1463
- Напівавтоматичне вимірювання горизонтальних, вертикальних та радіальних шарів
- Надання даних про товщину шару у вигляді статистичних значень для різних відрізків у вигляді таблиць або діаграм
Перевірка визначення розміру частинок
- Розмір частинок визначається відповідно до стандартів DIN EN ISO 643 та ASTM E112 методом лінійного або кругового розрізу
- Результати аналізу надаються у вигляді таблиць або діаграм
- Документація статистичних характеристик розміру частинок та довжин сегментів, що проходять крізь частинки
- Вимірювання зварювальних швів
- Стандартизоване вимірювання та оцінка зварювальних швів
- Готові шаблони з усіма необхідними вимірювальними інструментами, такими як товщина горловини, армування зварювального шва, глибина проварювання тощо.
- Автоматична оцінка якості (придатний/непридатний) та формування звіту.
Технічна характеристика 
| Діапазон випробувального навантаження | 0.5* - 200 N |
| Постійне навантаження | Окремі вимірювання |
| Прогресивне навантаження | Окремі вимірювання |
| Вісь Z | Динамічний, автоматизований (CAS-Technic), хід по осі Z — 150 мм (5,91 дюйма) |
| Положення інструменту | 8-позиційний моторизований змінювач інструментів (макс. 3 модулі тестування, макс. 7 лінз) |
| Базове обладнання, що входить до комплекту | Алмаз за шкалою Роквелла; лінзи 20x, 50x |
| Типи лінз | Стандартні (ахроматичні) та високої якості (напівапохроматичні) для випробувань на твердість та мікроскопії |
| Камера для зйомки зразків зображень | - |
| Поперечний супорт | Моторизована вісь Y |
| Розмір столу | 150 × 120 мм (5,91 × 4,72 дюйма) |
| Точність позиціонування | Ось Y: +/- 0,2 мкм |
| Шлях перетину | Y 150 мм (5,91") |
| Елементи керування | Аварійна зупинка, кнопка «Пуск», джойстик Y/Z |
| Максимальна вага зразка | 50 кг (110 фунтів) |
| Вага прибору | 58 кг (127,9 фунтів) |
| Опціонально | Модуль Qpix Inspect |