Дифрактометр DDCOM для визначення орієнтації кристалів

Артикул: DDCOM

Надшвидкий, нижньоповерхневий дифрактометр  орієнтації кристалічної решітки монокристалів в компактному корпусі

Визначте повну орієнтацію кристала за лічені секунди за допомогою ефективного і точного методу. Завдяки низькому енергоспоживанню та експлуатаційним витратам DDCOM ідеально підходить як для досліджень, так і для промислових застосувань.

Загальний огляд

Надшвидка, точна (до (1/100)o) орієнтація кристалів на кінчиках ваших пальців. DDCOM отримує надійні результати більш ніж в 100 разів швидше, ніж традиційні методи, з додатковою економією часу завдяки геометрії вимірювання «знизу-вгору». Цей універсальний прилад використовує рентгенівську трубку з повітряним охолодженням і портативну конструкцію для забезпечення низьких експлуатаційних витрат і максимальної зручності.

Функції та переваги

Швидкий та точний

Цей метод вимагає лише одного обертання сканування для збору всіх необхідних даних для визначення орієнтації кристала. Вимірювання відносно осі обертання збільшує пропускну здатність, забезпечуючи точні результати всього за кілька секунд.

Точне та ефективне управління

Зберігайте контроль над процесами обробки, шліфування та притирання з високою точністю до 1/100o. DDCOM забезпечує повну орієнтацію кристалічної решітки монокристалів. Завдяки попередньо запрограмованим параметрам кристала, він також визначає довільну невідому орієнтацію різних структур. Функція азимутального налаштування разом з маркуванням орієнтації кристала допомагає вдосконалити робочий процес для більшої ефективності.

Компактний, зручний у використанні формат

Компактний дизайн DDCOM дозволяє системі вписатися в будь-яке робоче середовище. Програмне забезпечення є одночасно потужним та інтуїтивно зрозумілим, що робить його зручним і простим в експлуатації для широкого кола користувачів.

Універсальний і економічно ефективний

DDCOM добре обладнаний як для дослідницьких, так і для виробничих умов, в яких необхідно аналізувати різноманітні типи зразків. Завдяки низькому енергоспоживанню і повітряному охолодженню рентгенівської трубки експлуатаційні витрати на DDCOM низькі - водяне охолодження не потрібне.

Прилад може вимірювати цілий ряд різноманітних матеріалів з різною структурою, що забезпечує гнучкість для будь-якої лабораторії. Деякі приклади вимірюваних матеріалів включають:

  • Кубічні, довільної невідомої орієнтації: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
  • Кубічні, спеціальна орієнтація: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
  • Тетрагональна: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
  • Гексагональні та тригональні: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (кварц), Al2O3 (сапфір), GaPO4, La3Ga5SiO14
  • Орторомбічна: Mg2SiO4, NdGaO3

Основні сфери застосування

Контроль орієнтації кристалів для різання, шліфування та притирання

Завдяки невеликій площі, можливостям автоматизації та високій швидкості вимірювання, DDCOM XRD надає зручний і зрозумілий для користувача спосіб вимірювання орієнтації кристалів, що дозволяє точно і ефективно контролювати процеси різання, шліфування і притирання.

Налаштування та маркування орієнтації кристалів

DDCOM обладнаний для азимутального налаштування та маркування орієнтації кристалів. Маркування підкладок залежить від відмінної точності і швидкого моніторингу, а DDCOM забезпечує швидкість та точність, необхідну для вашого процесу. Легкий і портативний, він легко інтегрується в існуючу систему або стає частиною нового процесу.

Контроль якості

Швидкість та час виконання вимірювань мають вирішальне значення для контролю якості продукції, але для рутинних вимірювань також важливо підтримувати низькі експлуатаційні витрати. Завдяки геометрії вимірювання зверху вниз, DDCOM ефективний не тільки в плані пропускної здатності і продуктивності, але і в плані енергоспоживання, що дозволяє знизити витрати і забезпечити оптимальну роботу процесів без шкоди для якості.

Дослідження матеріалів

Здатний вимірювати різноманітні типи кристалів на невеликій лабораторній площі, DDCOM ідеально підходить для стандартних дослідницьких процесів. Витрати на експлуатацію залишаються низькими завдяки мінімізованому енергоспоживанню та повітряному охолодженню рентгенівської трубки, що не потребує водяного охолодження. DDCOM також доступний і простий в експлуатації для різних рівнів досвіду, що робить його практичним рішенням для дослідницьких лабораторій.

Технічна характеристика 

Джерело рентгенівського випромінювання Рентгенівська трубка 30 Вт з повітряним охолодженням, мідний анод
ДетекторДва сцинтиляційних лічильника
Тримач зразківТочний поворотний столик, точність налаштування 0,01°, інструменти для точного позиціонування та маркування зразків
Фізична характеристика
Розміри600 мм × 600 мм × 850 мм
Вага 80 кг
Електроживлення100-230 В, 500 Вт, однофазний
Кімнатна температура≤ 30° C
Параметри конфігурації
Пристрій для мапування пластин (максимальний діаметр 225 мм)
Пристрій для автоматичного завантаження з касет
Приклади вимірюваних матеріалів
Кубічні, довільної невідомої орієнтаціїSi, Ge, GaAs, GaP, InP
Кубічні, спеціальна орієнтаціяAg, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
ТетрагональнаMgF2, TiO2, SrLaAlO4
Гексагональні та тригональні
SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (кварц), Al2O3 (сапфір), GaPO4, La3Ga5SiO14
ОрторомбічнаMg2SiO4, NdGaO3
Інші матеріали відповідно до вимог замовника
Потужна автоматизована рентгенографія на вашому робочому столі

Отримуйте універсальні, надшвидкі вимірювання орієнтації кристалів з можливістю автоматизації - і все це в легкому і економічно ефективному настільному приладі.