Твердоміри по Віккерсу / Кнупу / Брінеллю / Роквеллу серії Qness 10 / 60 виводять тестування мікротвердості на абсолютно новий рівень: Висококласні лабораторні прилади останнього покоління поєднують в собі найкраще з обох світів - вимірювання твердості і мікроскопії без компромісів і з максимальною зручністю в роботі. Революційна оптична система з кольоровою камерою забезпечує відтворювані та надійні результати кожного разу.
Класична модель «Qness 10 / 60 A+» цього твердоміра по Віккерсу / Кнупу / Брінеллю / Роквеллу обіцяє ідеальну автоматизацію і поставляється з точним контролем позиціонування для всіх трьох осей. Гнучкі прогресії XYZ для тисяч точок аналізу забезпечують надзвичайно високу пропускну здатність без втручання оператора.
Прилади для вимірювання твердості QATM точно проводять аналіз відповідно до всіх стандартних методів випробувань і охоплюють широкий спектр.
Повністю автоматизовані цикли випробувань з електронним управлінням забезпечують швидке і точне вимірювання твердості, а також швидку зміну методу і автоматичне визначення фокальної площини. З пакетом «Готовий до випробувань» можливі всі методи випробувань по Віккерсу в стандартному комплекті поставки.
Інтегровані перетворення
DIN EN ISO 18265, DIN EN ISO 50150, ASTM E-140
Qness 60 M/A+/можливі всі методи випробувань за Віккерсом в стандартному комплекті поставки
✓ Qness 10 M/A+ в стандартному комплекті поставки від HV0,02 до HV10.
* не відповідає стандартам
Визначення розміру частинок
DIN 9042, ASTM E-562
Вимірювання товщини шару
DIN EN ISO 1463
Вимірювання зварного шва
DIN EN ISO 5817
Розроблена QATM система лінз власного виробництва встановлює нові стандарти. Окрім забезпечення кристально чистого зображення для вимірювання твердості, підсвічування Koehler використовує біле світлодіодне світло і закриття діафрагми з електроприводом, що забезпечує ідеальну контрастність навіть для зображень з великим збільшенням.
Досвідчені металурги погоджуються з тим, що якість зображення, яке забезпечує Qness 10 / 60 M, за всіма параметрами можна порівняти з якістю відомих складних мікроскопів. Сучасна концепція і нові лінзи в оптичній системі дозволяють приладу повністю відповідати навіть найсуворішим фізичним вимогам «визначення тестової системи» відповідно до DIN EN ISO6507-1/2:2018.
Максимальна універсальність
Неперевершений для випробувань одиничних зразків і обмежених серій виробів будь-якого розміру: Просте управління і додаткові опції для мікроскопії роблять QATM Qness 10/60 M унікальним, високоякісним та універсальним інструментом.
Цифровий перехесний слайд зі зворотнім зв'язком
Забезпечує послідовне попереднє визначення тестових програм з фіксованою кількістю тестових точок. При необхідності, також з ручним супортом, цифровим мікрометричним шпинделем і зворотним зв'язком по позиціонуванню - як для ручних прогресій CHD.
Новий метод випробовування по Роквеллу
На додаток до оптичних методів Віккерса, Кнупа і Брінелля, вимірювання по Роквеллу тепер можна проводити за допомогою нових мікротвердомірів. Для цього був розроблений спеціальний модуль для вимірювання по Роквеллу.
Вертикальна концепція з 2 осями Z
Розподіл вертикального руху по 2 осях має значні переваги. За допомогою першої осі Z здійснюється динамічне керування рухом, що дозволяє швидко і зручно позиціонувати індентор по відношенню до досліджуваної поверхні зі швидкістю до 30 мм/с. Додаткова друга вісь Z в системі QATM пропонує систему позиціонування з високою роздільною здатністю для більшої точності застосування навантаження та фокусування.
ЗРАЗОК КАМЕРИ ЗОБРАЖЕННЯ
Не випадково більшість клієнтів QATM обирають версію «A+» з вбудованою камерою для аналізу зразків. За кілька секунд зображення зразка знімається додатковою камерою (поле зору 52 x 39 мм). Зображення забезпечує відмінну навігаційну підтримку в програмному забезпеченні, особливо в поєднанні з технологією DOUBLE-VIEW, і сприяє розширенню документації в автоматично складеному звіті про випробування.
ЗОБРАЖЕННЯ ЗРАЗКА З ВИСОКОЮ РОЗДІЛЬНОЮ ЗДАТНІСТЮ (HRI)
Якщо потрібні високоякісні зображення великих ділянок (наприклад, для вимірювання зварних швів), ділянку можна відсканувати за допомогою функції HRI. Програмне забезпечення Qpix Control 2 автоматично об'єднує окремі зображення в одне велике загальне зображення.
ТОЧНЕ ПОЗИЦІОНУВАННЯ І ВЕЛИКИЙ ПРОСТІР ДЛЯ ТЕСТУВАННЯ
Всі 3 осі в стандартній комплектації оснащені прямою оптичною системою вимірювання шляху. Осі і револьверну головку можна позиціонувати з точністю до 1,5 мкм, тому навіть тонкі шари або спеціальні тестові або аналітичні координати можна повторювати з високою точністю.
РІЗНІ ВИСОТИ ТЕСТУВАННЯ
Унікальна конструкція високодинамічної револьверної головки для зміни інструменту дозволяє розміщувати зразки на різній висоті в межах зони випробувань. Інноваційна технологія CAS захищає пристрій від зіткнень.
Тримачі зразків QATM розроблені для забезпечення максимальної пропускної здатності. Тестові столи для приладів класу «А+» мають достатньо місця для 8-кратного тримача зразків у стандартній комплектації; до двох тримачів можна використовувати паралельно з додатковим 300-міліметровим предметним склом.
Інтегровані зразки
Надійне затискання зразків завдяки переробленому тримачу зразка з вбудованим обмежувачем навантаження спрощує центрування і позиціонування зразка. Пластина для зразків з кульовим шарніром затискає навіть ті зразки, які неможливо утримувати в горизонтальному положенні, щоб запобігти їх нахилу або ковзанню під час тестування. Доступні з 1, 4 або 8 позиціями утримання зразків і перехідними кільцями для широкого діапазону діаметрів зразків в метричній та дюймових системах.
Невбудовані зразки
В універсальному тримачі для зразків можна встановлювати компоненти практично будь-якої геометричної форми. Чотири затискних болта можуть бути встановлені в різних Т-подібних пазах.
Інтуїтивно зрозуміле програмне забезпечення Qpix Control2 M-Version входить до комплекту кожного твердоміра Qness 10 / 60 M за Віккерсом / Кнупом / Брінеллем / Роквеллом і забезпечує складну функціональність, адаптовану до вимог напівавтоматичних приладів для вимірювання твердості. Чітко організоване управління партіями та ефективне використання шаблонів з широкого спектру проектів тестування, структурування результатів тестування і повний спектр довідкової інформації про випробування. Шаблони, які легко генеруються, містять всю необхідну інформацію про схеми випробувань, методи випробувань, назви зразків і дані полів користувача.
1. Завантаження зразків
Машина автоматично переміщується на висоту тримача зразка.
2. Завантажувальний ряд
Автоприв'язка - швидке налаштування ряду: Перетягніть ряд тестових точок у потрібне положення. Функція послідовної автоматичної прив'язки автоматично коригує початкову точку тестового ряду.
3. Початок послідовності випробувань
Послідовність випробувань виконується відповідно до застосовних стандартів випробувань на твердість.
Стандартні функції
Додаткові функції Мікроскопія та аналіз
Додатковий програмний модуль «2D/3D діаграма твердості» є ідеальним помічником для детального визначення розподілу твердості по всьому перерізу, особливо для термооброблених матеріалів. Це надзвичайно важливо при дослідженні матеріалів, а також при випробуванні зварних швів або при аналізі пошкоджень.
1. Створити область
2. Визначте сітку
3. Відображення у форматі 2D
Відображення у 3D
Однорідна діаграма розподілу твердості по перерізу дроту
Структура тестових точок на зразку без шару
Діапазон випробувального навантаження | Qness 10 A+: 20 gf - 10 кгс (0,196 - 98,07 Н)
Qness 60 A+: 0,25 gf - 62,5 кгс (0,00245 - 612,92 Н) |
Метод випробування | Віккерс, Кнуп, Брінелл, Роквелл (на вибір) |
Послідовність тестування | Повністю автоматизоване / електронне застосування навантаження |
Вісь Z | Динамічний, автоматизований (CAS-Technic) |
Відстань переміщення по осі Z | 150 мм (5,91"); опція: 260 мм (10,2") |
Тестовий простір по горизонталі | 170 мм (6.69") |
Позиції турелі | 8-кратний моторизований пристрій для зміни інструменту макс. 3 модулі для вимірювання твердості, макс. 7 лінз |
Система камер | 5 пікселів - кольоровий CMOS, USB3.0 |
Випробувальна ковадло / XY поперечний слайд | Автоматичний поперечний слайд |
Розмір столу | 150 x 120 мм (5,91 x 4,72"); опция 300 x 120 мм (11,8 x 4,72") |
Точність позиціонування | +/- 2 мкм |
Оптична система | Вертикальний мікроскоп з освітленням Келера |
Апертурна діафрагма | Виправлення |
Об'єктиви | XLED 2x, 2.5x, 5x, 10x, 20x, 50x, 100x |
Типи об'єктивів | Стандартний (ахромат) і високоякісний (напівапохромат) для вимірювання твердості та мікроскопії
XLED для оптимізованого вимірювання твердості за Брінеллем |
Поле зору (залежно від обладнання) | 0,074x0,055 мм (100x) до 2,80x2,10 мм (XLED 2) |
Предметний столик / XY координатний стіл | Опція: ручний поперечний супорт; зменшує висоту тесту на 26 мм |
Розмір предметного столу | Ø 100 мм (3,94") (поперечна каретка: 135 x 135 мм) |
Шлях на поперечний слайд | X 150, Y 150 мм (5,91 x 5,91"); опція: X 300 x Y 150 мм (11,8 x 5,91") |
Елементи керування | Аварійна зупинка, кнопка Пуск, джойстик X/Y/Z |
Програмне забезпечення | Qpix Control2 "M" |
Максимальна вага зразка | 50 кг |
Вага базової машини | 60 кг |
Базове обладнання, що входить до комплекту | Індентор Віккерса ASTM + DAkkS; об'єктив 5x, 20x, 50x |
Зовнішні інтерфейси | 1 x USB 3.0 |
Електроживлення | 100 - 240 В ~1/N/PE, 45-65 Гц |