EMI III є наступником програмного забезпечення для аналізу зображень EMI 2 від Hesse Instruments. Користувачі, які вже мають нагрівальний мікроскоп Hesse Instruments або Leitz/Leica з EMI 2, можуть легко оновити свою систему до EMI III.
Порівняння EMI 2 і EMI III
Програмне забезпечення для нагрівального мікроскопа EMI III було розроблено на основі перевіреного програмного забезпечення для аналізу зображень EMI 2 від Hesse Instruments. Повна функціональність EMI 2 була включена в EMI III, а діапазон функцій був розширений для підвищення простоти використання та надання додаткових опцій для підготовки, виконання та оцінки вимірювань.
На додаток до розширеного набору функцій, EMI III значно покращує продуктивність EMI 2. Програмне забезпечення було розроблено для сучасних операційних систем та апаратного забезпечення і тому дозволяє, серед іншого, більш точну роздільну здатність під час аналізу зображень і більшу ємність для зберігання даних про форми досліджуваного зразка.
Комплектація та встановлення оновлення
Щоб гарантувати покращену продуктивність EMI III, оновлення до цієї версії включає не тільки програмне забезпечення нагрівального мікроскопа EMI III, але й наступні апаратні та програмні компоненти:
Комп'ютер вимірювальної станції: EMI III встановлюється на попередньо налаштований та готовий до роботи комп'ютер вимірювальної станції. Крім операційної системи і програмного забезпечення для нагрівального мікроскопа, комп'ютер оснащений усіма необхідними апаратними інтерфейсами.
Мережева CCD-камера: Більш потужна камера з більш швидкою передачею даних забезпечує зображення з необхідною роздільною здатністю для нещодавно розроблених алгоритмів оцінки. Камера сумісна з існуючим макрооб'єктивом EM201.
Пристрій для вимірювання температури або модуль ModBus: Залежно від потреб та умов, система управління піччю Hesse Instruments оснащується новим пристроєм вимірювання температури або новим модулем ModBus для зв'язку з EMI III.
EMI 2 - модуль імпорту даних: Оновлення до EMI III включає в себе модуль імпорту даних, який дозволяє імпортувати і досліджувати вимірювання EMI 2 в EMI III.
Процес модернізації розроблений і задокументований таким чином, що ви можете легко виконати його самостійно. Після єдиної процедури налаштування модернізований нагрівальний мікроскоп готовий до використання.
Переваги з першого погляду
Покращена продуктивність
Сучасне апаратне та програмне забезпечення
- Високопродуктивний аналіз зображень
Вдосконалені алгоритми оцінювання
- Точне визначення форми досліджуваних зразків
- Аналіз з високою роздільною здатністю в рамках автоматичного аналізу зображень
Сумісна з мережею CCD-камера
- Швидша цифрова передача записаних зображень
- Перетворення без втрат
- Покращена якість зображення
Підвищена продуктивність
Чіткий, структурований інтерфейс користувача
- Просте та інтуїтивно зрозуміле управління
- Короткі терміни навчання персоналу
- Наочне представлення вимірювань і результатів вимірювань
Широкий спектр функцій у порівнянні з EMI 2
- Простіша експлуатація
- Покращений контроль під час підготовки та оцінки вимірювань
- Більш просте та детальне документування результатів
Методологічне управління
- Економія часу при підготовці до вимірювань
- Зменшення систематичних похибок
Автоматичне оцінювання та документування
- Оптимальна та швидка оцінка результатів вимірювань
- Автоматичне створення тестових звітів
Інтерактивне відображення результатів вимірювань
- Зв'язок графіків, зображень та числових значень
- Швидка індивідуальна оцінка
- Індивідуальний дизайн графіків і звітів про випробування
Контроль та гнучкість
Сучасне обладнання та програмне забезпечення
- Високопродуктивний аналіз зображень
Розширені алгоритми оцінювання
- Точне визначення форми досліджуваних зразків
- Аналіз з високою роздільною здатністю в рамках автоматичного аналізу зображень
Сумісна з мережею CCD-камера
- Швидша цифрова передача записаних зображень
- Перетворення без втрат
- Покращена якість зображення
Технічна характеристика
Камера | CCD-камера - чорно-біла |
Об'єктив | Спеціальна макрооб'єктивна лінза |
Збільшення ² ⁾ | Типове збільшення: ширина зображення: 9 мм при ширині зразка 3 мм (Wₛₚₑciₘₑₙ = 1/3 Wiₘₐgₑ) |
Рішення | Залежно від встановленого збільшення та розміру зразка - Довжина: < 0,1% від відносної ширини або висоти зразка
- Площа: < 0,1 % від відносної проектованої площі зразка
- Кут: < 1°
|
Типи термоелементів | EPA-6: термопара типу S
EPA-8: термопара типу B |
Розміщення термопари | Усередині тримача зразка, безпосередньо під зразком |
Обробка сигналу | Компенсація холодного контакту
Дигіталізація
Лінеаризація |
Невизначеність вимірювання | Стандартна похибка вимірювання u(T) ≤ 5 K |