Універсальний дифрактометр для вимірювання орієнтації кристалів SDCOM
Артикул: SDCOM
Компактний дифрактометр для надшвидкого вимірювання орієнтації кристалів по верхній поверхні
Здатний вимірювати будь-який монокристал діаметром від 2 мм до 300 мм, SDCOM використовує метод азимутального сканування для точного визначення повної орієнтації кристалічної решітки монокристалів всього за один вимірювальний оберт, що займає всього кілька секунд.
Універсальний і доступний SDCOM, що підходить як для досліджень, так і для виробництва і контролю якості, легко вписується в широкий спектр технологічних етапів виробництва пластин та злитків, маючи при цьому мінімальні експлуатаційні витрати завдяки відсутності потреби в водяному охолодженні.
Загальне
Швидке і точне вимірювання орієнтації кристалів ще ніколи не було таким доступним - зустрічайте SDCOM, ваш зручний компактний рентгенівський аналізатор. Метод азимутального сканування забезпечує надшвидке вимірювання з отриманням результатів менш ніж за десять секунд.
Забезпечуючи найвищий рівень точності до 0,01o і підтримуючи широкий спектр аксесуарів, SDCOM є ідеальним рішенням для багатьох застосувань в обробці пластин та дослідженнях.
Особливості та переваги
Швидко і точно: метод азимутального сканування
Метод азимутального сканування вимагає лише одного вимірювального оберту для збору всіх необхідних даних для повного визначення орієнтації, надаючи результати протягом 10 секунд без шкоди для точності.
Зразок повертається на 360°, при цьому джерело рентгенівського випромінювання і детектор розташовуються так, щоб отримати певну кількість віддзеркалень за один оберт. Ці відбиття дозволяють виміряти орієнтацію кристалічної решітки по відношенню до осі обертання з високою точністю до 0, 01°.
Компактний та універсальний
Завдяки своїй легкій і компактній формі SDCOM легко інтегрується в дослідницькі або промислові процеси. Програмне забезпечення XRD Suite є одночасно потужним і інтуїтивно зрозумілим, що робить його зручним і простим в експлуатації для широкого кола користувачів.
Гнучкість є ключовим фактором для SDCOM, що особливо чітко проявляється в діапазоні матеріалів, які він може вимірювати. SDCOM може вимірювати кристали діаметром від 2 мм до 300 мм.
Для більшої гнучкості SDCOM також підтримує тета-сканування. Завдяки цьому ви можете охопити ще більший діапазон матеріалів та зрізів.
Ми також пропонуємо різноманітні тримачі зразків і пристосування для перенесення, які можуть ще більше розширити можливості застосування SDCOM, забезпечуючи сумісність з вашим робочим процесом. Також доступні ручні і моторизовані етапи мапування пластин.
Приклади вимірюваних матеріалів включають (метод азимутального сканування):
- Кубічні, довільної невідомої орієнтації: Si, Ge, GaAs, GaP, InP
- Кубічні, спеціальна орієнтація: Ag, Au, Ni, Pt, GaSb, InAs, InSb, AlSb, ZnTe, CdTe, SiC3C, PbS, PbTe, SnTe, MgO, LiF, MgAl2O4, SrTiO3, LaTiO3
- Тетрагональна: MgF2, TiO2, SrLaAlO4
- Гексагональні та тригональні: SiC 2H, 4H, 6H, 15R, GaN, ZnO, LiNbO3, SiO2 (кварц), Al2O3 (сапфір), GaPO4, La3Ga5SiO14
- Орторомбічна: Mg2SiO4, NdGaO3
- Будь-який інший монокристалічний матеріал
Економічна ефективність
Рентгенівська трубка SDCOM охолоджується повітрям, що усуває потребу в чиллері або контурі з охолоджувальною водою. Завдяки ефективності та компактності SDCOM споживання енергії зводиться до мінімуму, а отже, до мінімуму зменшуються і ваші експлуатаційні витрати.
Сфери застосування
Маркування і вимірювання площинних напрямків
SDCOM забезпечує надшвидкі, високоточні вимірювання орієнтації кристалів, які ідеально підходять для цілого ряду застосувань у виробництві та обробці пластин, в тому числі для маркування і вимірювання площинних напрямків. Легкий і портативний, він може бути розгорнутий в будь-якому місці, де він потрібен у вашому технологічному процесі.
Здатний вимірювати маленькі кристали до 1 мм з високою точністю і широкий спектр матеріалів, SDCOM добре підходить для задоволення складних і постійних потреб напівпровідникової промисловості.
Контроль якості виробництва
Рутинний контроль процесу вимагає швидкості, точності та повторюваності - і SDCOM забезпечує це. Завдяки настільному формату і рентгенівській трубці з повітряним охолодженням він підвищить вашу продуктивність без значного впливу на експлуатаційні витрати.
Дослідження матеріалів
Здатний вимірювати різноманітні типи кристалів на невеликій лабораторній площі, SDCOM ідеально підходить для стандартних дослідницьких процесів. Витрати на експлуатацію залишаються низькими завдяки мінімізованому енергоспоживанню та повітряному охолодженню рентгенівської трубки, що не потребує водяного охолодження.
SDCOM також доступний і простий в експлуатації завдяки ручному управлінню, що робить його практичним рішенням для дослідницьких лабораторій з великою кількістю користувачів.
Технічна характеристика
Джерело рентгенівського випромінювання | Рентгенівська трубка 30 Вт з повітряним охолодженням, мідний анод |
| Детектор | Технологія сцинтиляційного лічильника |
| Тримач зразків | Точний поворотний столик, точність налаштування 0,01°, індивідуальні тримачі зразків і пристосування для транспортування |
| Діаметр зразка | До 2 мм ø, до 200 мм |
| Температура навколишнього середовища | ≤ 30° C |
| Вимоги до ПК | Windows 10 або новіша версія, . NET Framework, 2 порти Ethernet |
| Вимоги до електроживлення | 100-230 В, однофазне, 500 Вт |
| Розміри | 600 мм (Д) x 600 мм (В) x 840 мм (Г) |
| Вага | 100 кг |
| Сертифікація | Відповідає нормам ISO 9001, сертифіковано за стандартом CE |